【厂家】FEI

【型号】TECNAI G2 20 LaB6

点分辨率:≤0.24nm

线分辨率: ≤0.14nm

加速电压范围: 20kV- 200kV

样品台: X:≥2mm; Y:≥2mm; Z: ≥0.75mm

XY方向移动最小步长: < 4nm

最大倾斜角: ≥+40°

照相系电制冷能谱仪:元素分析范围从B04- Pu94

【送样须知】

1. 粉末5mg，液体0.5ml；样品拍摄数量，TEM10张左右，HRTEM包含TEM共15张左右，能谱和衍射原则上只做一个区域，多个区域另外收费；不含有毒有害物质；制样默认为无水乙醇分散超声5到10分钟滴铜网自然干燥制样，其他方式请备注。

2. 能谱只有点扫才能得到元素半定量数据，原则上不单独测能谱和衍射，单晶衍射需联系客服确定，mapping的元素含量表需要测试要求中重点提出，mapping会附赠一张做mapping区域的STEM暗场像，“STEM(HAADF)”项目会做5张左右暗场像，最小标尺20nm。

3. 含Fe、Co、Ni、Mn、Ru元素即定义为磁性样品，请下“磁性粉末/液体透射电镜（TEM）”项目，TEM理想状态是测试纳米级样品，如果样品为微米级，不保证样品能附着在铜网上，若样品容易变质需要指明，液体请指明溶剂，碳点、量子点和分子筛等，如果是样品原因造成的测试效果不符合预期，均需收取费用，因隐瞒样品信息导致仪器损坏，需要您承担全部赔偿责任。

4. 请仔细填写测试要求，上传的参考图片只作形貌参考，测试要求均以文字说明为准，面扫mapping请指明区域或标尺，其他项目也最好指明区域或者标尺，晶格条纹由于只能拍暴露的薄区的晶面，所以一些晶面一次测试可能是拍不出的，实验室老师会尽量找不同的晶格拍，而且由于测试时，无法准确获知拍摄的晶格是那种晶面的，所以以后由于晶面问题再次上机测试会收取一定测试费用。

5. 不需要包埋切片样品，需要染色或者用80-120KV电镜拍摄，请下“低电压透射电镜（TEM）”项目。